審計追蹤粒度分析系統
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產品詳情
產品簡介:
DLS-50SJ粒度分析系統帶有審計追蹤模塊,保障數據完整性,防止圖像篡改。顯微鏡法粒度粒形儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統,具有直觀、可視、準確、測試范圍寬、操作簡單、測量參數全面等特點。能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的顯微粒度分析儀器。軟件自動進行統計樣品顆粒,并對顆粒進行做粒度分布。可以得到常規的平均粒徑,D10,D50,D90等參數。
產品特性Product characteristics
粒徑范圍 |
200nm-3000μm |
準確性 |
<3% |
粒徑參數 |
等效面積圓, 等效周長圓, 等效短徑,等效長徑等 |
粒度統計 |
體積、面積、顆粒。 |
攝像機分辨率 |
1200萬像素 |
重要粒徑參數 |
D10、 D50 、D90 、D97 |
軟件分析 |
自動統計分析并做粒度分布 |
物鏡 |
5X 10X 20X 40X 100X |
數據 |
多級審計追蹤模塊 |
● 審計追蹤:
審計追蹤軟件
審計追蹤是一種強大的數據管理工具,它詳細記錄并追蹤數據或系統更改的歷史,確保數據的完整性、可追溯性和合規性。通過審計追蹤,組織可以輕松查看每一次更改的時間、日期、內容以及執行更改的人員或系統身份。這不僅有助于及時發現并糾正錯誤,還能在出現問題時提供有價值的證據,輔助問題解決。對于需要處理大量數據或敏感信息的組織而言,審計追蹤是不可或缺的。它提供了一種高效、準確的方式來監控和管理數據更改,確保數據的準確性和安全性。
子母賬號便攜管理
在子母賬戶功能下,系統能夠區分并追蹤母賬戶(或主賬戶)和子賬戶(或從賬戶)的活動。母賬戶通常擁有更高的權限,可以創建、管理子賬戶,并監控其活動
詳細記錄報告與追蹤
軟件遵循 WHO WHEN WHAT 理念。能夠記錄每一次數據或系統更改的詳細
信息,包括更改時間、日期、內容以及執行更改的人員或系統身份,包括測量
導出的報告,也會有詳細的記錄
● 應用領域:
DLS-50SJ顯微鏡法粒度粒形儀廣泛適用于API原料藥、半固體軟膏、液體制劑、藥物晶型分析、生物醫藥、食品等領域的各種顆粒的粒度大小、形狀特征觀察和測量。